WTG磁盤測(cè)速軟件主要用于移動(dòng)硬盤，U盤測(cè)速，通過讀寫測(cè)試硬盤性能！測(cè)試硬盤是否能達(dá)到Windows TO GO的要求。

移動(dòng)硬盤測(cè)速工具功能：

1.SEQ寫入測(cè)試：
進(jìn)行10秒連續(xù)寫入測(cè)試，單次寫入量64MB，最多累計(jì)寫入量10GB。
每64MB計(jì)算寫入速度，最終結(jié)果取平均值。此項(xiàng)主要為創(chuàng)建測(cè)試文件，測(cè)試時(shí)間較短，結(jié)果可能不準(zhǔn)確。

2.4K隨機(jī)寫入測(cè)試：
進(jìn)行15秒4K隨機(jī)寫入測(cè)試
大約每500ms計(jì)算速度，結(jié)果取平均值。

3.調(diào)整4K
此項(xiàng)基于4K測(cè)試數(shù)據(jù)，經(jīng)處理得出。
因測(cè)試時(shí)間較短，不能得到磁盤的穩(wěn)定性能。
根據(jù)經(jīng)驗(yàn)及歷史測(cè)試數(shù)據(jù)，將后7.5秒比重加倍，較低值比重加倍，重新計(jì)算平均值。此項(xiàng)更接近磁盤在長(zhǎng)時(shí)間測(cè)試中表現(xiàn)出的性能。

4.寫入延遲測(cè)試項(xiàng)(已于2.0刪除)

寫入延遲（Acc.Time）性能參考：
<1ms 性能優(yōu)秀   （一般為SSD主控優(yōu)盤或SSD移動(dòng)硬盤）
1~10ms 性能良好  （SLC優(yōu)盤、移動(dòng)硬盤）
10~100ms 性能一般  （SLC優(yōu)盤、移動(dòng)硬盤）
>100ms 性能較差，不推薦制作Windows To Go （普通MLC優(yōu)盤）

等級(jí)

由高到低有Platinum、Gold、Silver、Bronze、Steel共5個(gè)等級(jí)。
推薦使用Gold及以上等級(jí)的設(shè)備制作Windows To Go，等級(jí)越高使用體驗(yàn)越好。